Eintrag weiter verarbeiten
Noise characterisation of MOS transistors in a 0.35 μm CMOS technology of geometries dedicated to front-end circuits for strip detectors
Zapisane w:
Tytuł czasopisma: | Journal of Instrumentation |
---|---|
Personen und Körperschaften: | , |
In: | Journal of Instrumentation, 1, 2006, 11, S. P11001-P11001 |
Format: | E-Article |
Język: | Unbestimmt |
Wydane: |
IOP Publishing
|
Hasła przedmiotowe: |