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Noise characterisation of MOS transistors in a 0.35 μm CMOS technology of geometries dedicated to front-end circuits for strip detectors
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Journal of Instrumentation |
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Personen und Körperschaften: | , |
In: | Journal of Instrumentation, 1, 2006, 11, S. P11001-P11001 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Unbestimmt |
veröffentlicht: |
IOP Publishing
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Schlagwörter: |