Eintrag weiter verarbeiten
Noise characterisation of MOS transistors in a 0.35 μm CMOS technology of geometries dedicated to front-end circuits for strip detectors
Uloženo v:
Název časopisu: | Journal of Instrumentation |
---|---|
Personen und Körperschaften: | , |
In: | Journal of Instrumentation, 1, 2006, 11, s. P11001-P11001 |
Formát: | Článek |
Jazyk: | Neurčité |
vydáno v: |
IOP Publishing
|
Předměty: |