Eintrag weiter verarbeiten
Limitations of the integrated sub-band-gap absorption for determining the density of defects in amorphous silicon
Zapisane w:
Tytuł czasopisma: | Journal of Applied Physics |
---|---|
Personen und Körperschaften: | , |
In: | Journal of Applied Physics, 67, 1990, 1, S. 578-580 |
Format: | E-Article |
Język: | Englisch |
Wydane: |
AIP Publishing
|
Hasła przedmiotowe: |