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Limitations of the integrated sub-band-gap absorption for determining the density of defects in amorphous silicon
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Journal of Applied Physics |
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Personen und Körperschaften: | , |
In: | Journal of Applied Physics, 67, 1990, 1, S. 578-580 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
AIP Publishing
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Schlagwörter: |