Eintrag weiter verarbeiten
Limitations of the integrated sub-band-gap absorption for determining the density of defects in amorphous silicon
Uloženo v:
Název časopisu: | Journal of Applied Physics |
---|---|
Personen und Körperschaften: | , |
In: | Journal of Applied Physics, 67, 1990, 1, s. 578-580 |
Formát: | Článek |
Jazyk: | angličtina |
vydáno v: |
AIP Publishing
|
Předměty: |