Eintrag weiter verarbeiten
Structured illumination microscopy: artefact analysis and reduction utilizing a parameter optimization approach
Uloženo v:
Název časopisu: | Journal of Microscopy |
---|---|
Personen und Körperschaften: | , , |
In: | Journal of Microscopy, 216, 2004, 2, s. 165-174 |
Formát: | Článek |
Jazyk: | angličtina |
vydáno v: |
Wiley
|
Předměty: |