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Structured illumination microscopy: artefact analysis and reduction utilizing a parameter optimization approach
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Journal of Microscopy |
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Personen und Körperschaften: | , , |
In: | Journal of Microscopy, 216, 2004, 2, S. 165-174 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
Wiley
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Schlagwörter: |