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Electron density topological analysis of silicon surfaces. The case of Si(100)(1x1):H and Si(100)(2x1):H
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Acta Crystallographica Section A Foundations of Crystallography |
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Personen und Körperschaften: | , |
In: | Acta Crystallographica Section A Foundations of Crystallography, 56, 2000, s1, S. s402-s402 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Unbestimmt |
veröffentlicht: |
International Union of Crystallography (IUCr)
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Schlagwörter: |