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On estimating impact of loading effect on leakage current in sub-65nm scaled CMOS circuits based on Newton-Raphson method
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Proceedings of the 44th annual conference on Design automation - DAC '07 |
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Personen und Körperschaften: | , , |
In: | Proceedings of the 44th annual conference on Design automation - DAC '07, 2007 |
Format: | E-Proceedings |
Sprache: | Unbestimmt |
veröffentlicht: |
ACM Press
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