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XRD and Raman study of vanadium oxide thin films deposited on fused silica substrates by RF magnetron sputtering
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Applied Surface Science |
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Personen und Körperschaften: | , , , , , , |
In: | Applied Surface Science, 177, 2001, 1-2, S. 8-14 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
Elsevier BV
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Schlagwörter: |