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Characterization of a commercial 65 nm CMOS technology for SLHC applications
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Journal of Instrumentation |
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Personen und Körperschaften: | , , , , , , |
In: | Journal of Instrumentation, 7, 2012, 1, S. P01015-P01015 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Unbestimmt |
veröffentlicht: |
IOP Publishing
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Schlagwörter: |