Eintrag weiter verarbeiten
Scanning tunnelling microscopy: application to field electron emission studies
Zapisane w:
Tytuł czasopisma: | Journal of Physics D: Applied Physics |
---|---|
Personen und Körperschaften: | , , , , |
In: | Journal of Physics D: Applied Physics, 32, 1999, 7, S. 815-819 |
Format: | E-Article |
Język: | Unbestimmt |
Wydane: |
IOP Publishing
|
Hasła przedmiotowe: |