Eintrag weiter verarbeiten
Scanning tunnelling microscopy: application to field electron emission studies
Uloženo v:
Název časopisu: | Journal of Physics D: Applied Physics |
---|---|
Personen und Körperschaften: | , , , , |
In: | Journal of Physics D: Applied Physics, 32, 1999, 7, s. 815-819 |
Formát: | Článek |
Jazyk: | Neurčité |
vydáno v: |
IOP Publishing
|
Předměty: |