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Electron-beam-induced current near the localized defects in a polycrystalline semiconductor
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Journal of Applied Physics |
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Personen und Körperschaften: | |
In: | Journal of Applied Physics, 60, 1986, 7, S. 2401-2405 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
AIP Publishing
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Schlagwörter: |