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Real-time thickness control of resonant-tunneling diode growth based on reflection mass spectrometry
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Applied Physics Letters |
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Personen und Körperschaften: | , , , |
In: | Applied Physics Letters, 66, 1995, 19, S. 2555-2557 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
AIP Publishing
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Schlagwörter: |