Eintrag weiter verarbeiten
Application of convergent beam electron diffraction to two-dimensional strain mapping in silicon devices
Uloženo v:
Název časopisu: | Applied Physics Letters |
---|---|
Personen und Körperschaften: | , , , , , , , |
In: | Applied Physics Letters, 82, 2003, 13, s. 2172-2174 |
Formát: | Článek |
Jazyk: | angličtina |
vydáno v: |
AIP Publishing
|
Předměty: |