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lokaler Bestand

Atomic force microscopy

Gespeichert in:

Personen und Körperschaften: Eaton, Peter (VerfasserIn), West, Paul (Sonstige)
Titel: Atomic force microscopy/ Peter Eaton; Paul West
Format: Buch
Sprache: Englisch
veröffentlicht:
Oxford [u.a.] Oxford Univ. Press c 2010
Schlagwörter:
Atomic force microscopy
Quelle: Verbunddaten SWB
Themen
RVK-Notation:
UH 6320
  • Physik
    • Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie
      • Quantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie
        • Teilchenoptik, Ionenstrahloptik
          • Teilchenoptik, Elektronenmikroskopie
            • Rastersondenmikroskopie allgemein
Schlagwörter:
Atomic force microscopy
Rasterkraftmikroskopie