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Online-Ressource

Helium Ion Microscopy: Principles and Applications

Gespeichert in:

Personen und Körperschaften: Joy, David C. (VerfasserIn)
Titel: Helium Ion Microscopy: Principles and Applications/ by David C. Joy
Format: E-Book
Sprache: Englisch
veröffentlicht:
New York, NY, s.l. Springer New York 2013
Gesamtaufnahme: SpringerBriefs in Materials
SpringerLink
Schlagwörter:
Spectroscopy
Nanotechnology
Surfaces (Physics)
Materials Science
Druckausg.: Joy, David C., Helium ion microscopy, New York, NY : Springer, 2013, VIII, 64 S.
Quelle: Verbunddaten SWB
Zugangsinformationen: Elektronischer Volltext - Campuslizenz