Eintrag weiter verarbeiten
Influence of Shockley Stacking Fault Generation on Electrical Behavior of 4H-SiC 10 kV MPS Diodes
Uloženo v:
Název časopisu: | Materials Science Forum |
---|---|
Personen und Körperschaften: | , , , , , , |
In: | Materials Science Forum, 645-648, 2010, s. 331-334 |
Formát: | Článek |
Jazyk: | Neurčité |
vydáno v: |
Trans Tech Publications, Ltd.
|
Předměty: |