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Electrical Width Determination of Silicon Nanowires Prepared by Using the Top-Down Method
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Journal of the Korean Physical Society |
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Personen und Körperschaften: | |
In: | Journal of the Korean Physical Society, 55, 2009, 6, S. 2486-2490 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
Korean Physical Society
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Schlagwörter: |