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Update of Single Event Effects Radiation Hardness Assurance of Readout Integrated Circuit of Infrared Image Sensors at Cryogenic Temperature
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Sensors |
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Personen und Körperschaften: | , , , , , , , , , |
In: | Sensors, 18, 2018, 7, S. 2338 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
MDPI AG
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Schlagwörter: |