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Determining the Free Carrier Density in Cd x Hg1–xTe Solid Solutions from Far-Infrared Reflection Spectra
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Semiconductors |
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Personen und Körperschaften: | , , , , |
In: | Semiconductors, 51, 2017, 13, S. 1732-1736 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
Pleiades Publishing Ltd
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Schlagwörter: |