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Two-Step Annealing to Remove Te Secondary-Phase Defects in CdZnTe While Preserving the High Electrical Resistivity
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | IEEE Transactions on Nuclear Science |
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Personen und Körperschaften: | , , , , , , |
In: | IEEE Transactions on Nuclear Science, 65, 2018, 8, S. 2333-2337 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Unbestimmt |
veröffentlicht: |
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
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Schlagwörter: |