Hirokawa, S.(2015). Characterizing Alpha- and Neutron-Induced SEU and MCU on SOTB and Bulk 0.4-V SRAMs. IEEE Transactions on Nuclear Science, 62(2), 420-427. doi:10.1109/tns.2015.2403265
Bitte überprüfen Sie diese Angaben auf Richtigkeit, bevor Sie sie in Ihre Arbeit aufnehmen.