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Degradation of CMOS APS Image Sensors Induced by Total Ionizing Dose Radiation at Different Dose Rates and Biased Conditions
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | IEEE Transactions on Nuclear Science |
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Personen und Körperschaften: | , , , , , , , |
In: | IEEE Transactions on Nuclear Science, 62, 2015, 2, S. 527-533 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Unbestimmt |
veröffentlicht: |
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
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Schlagwörter: |