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Combined Atomic Force Microscope-Based Topographical Imaging and Nanometer-Scale Resolved Proximal Probe Thermal Desorption/Electrospray Ionization–Mass Spectrometry
Zapisane w:
Tytuł czasopisma: | ACS Nano |
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Personen und Körperschaften: | , , , , |
In: | ACS Nano, 5, 2011, 7, S. 5526-5531 |
Format: | E-Article |
Język: | Englisch |
Wydane: |
American Chemical Society (ACS)
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Hasła przedmiotowe: |