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Coupling Secondary Ion Mass Spectrometry and Atom Probe Tomography for Atomic Diffusion and Segregation Measurements
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Microscopy and Microanalysis |
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Personen und Körperschaften: | , , |
In: | Microscopy and Microanalysis, 25, 2019, 2, S. 517-523 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
Oxford University Press (OUP)
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Schlagwörter: |