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Atomic Imaging Across Strain Boundaries in Bilayer Graphene with ADF-STEM and DF-TEM
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Microscopy and Microanalysis |
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Personen und Körperschaften: | , , , , , , , |
In: | Microscopy and Microanalysis, 20, 2014, S3, S. 1058-1059 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
Oxford University Press (OUP)
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Schlagwörter: |