Schmidt, C.(1999). XPS investigations on the formation of passive layers on Fe/Si alloys at pH 5 and 9. Surface and Interface Analysis, 27(11), 984-992. doi:10.1002/(sici)1096-9918(199911)27:11<984::aid-sia665>3.0.co;2-k
Bitte überprüfen Sie diese Angaben auf Richtigkeit, bevor Sie sie in Ihre Arbeit aufnehmen.