Eintrag weiter verarbeiten
Measuring doping profiles of silicon detectors with a custom-designed probe station
Uloženo v:
Název časopisu: | Journal of Instrumentation |
---|---|
Personen und Körperschaften: | , , , , , |
In: | Journal of Instrumentation, 7, 2012, 11, s. P11009-P11009 |
Formát: | Článek |
Jazyk: | Neurčité |
vydáno v: |
IOP Publishing
|
Předměty: |