Eintrag weiter verarbeiten
Optical investigation of interface roughness and defect incorporation in GaAs/AlGaAs quantum wells grown with and without growth interruption
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Applied Physics Letters |
---|---|
Personen und Körperschaften: | , , , , |
In: | Applied Physics Letters, 59, 1991, 17, S. 2150-2152 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
AIP Publishing
|
Schlagwörter: |