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Spin-dependent recombination electron paramagnetic resonance spectroscopy of defects in irradiated silicon detectors
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Journal of Applied Physics |
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Personen und Körperschaften: | , , , , , , |
In: | Journal of Applied Physics, 93, 2003, 12, S. 9659-9664 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
AIP Publishing
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Schlagwörter: |